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반도체 칩 검사 장비의 진동 특성 연구
A Study of Vibration Characteristic for Semiconductor Chip Test Equipment
- 제목
- 반도체 칩 검사 장비의 진동 특성 연구
- 제목 (타언어)
- A Study of Vibration Characteristic for Semiconductor Chip Test Equipment
- 저자
- CHUL HEE LEE
- 학회명
- 한국기계가공학회 2012년 춘계학술대회
- 개최지
- 한국폴리텍Ⅰ대학 서울정수캠퍼스
- 학회 개최일
- 2012-06-28 ~ 2012-06-29