SIFT를 기반으로 하는 PCB 영상의 정렬 알고리즘 개발

초록

This paper presents an image alignment algorithm for application of AOI (Automatic optical inspection) based on SIFT. Since the correspondences result using SIFT descriptor have many wrong points for aligning, this paper modified and classified those points by five measures. Experimental results show that the proposed method has similar rotation and robust translation accuracy in comparison to the commercial software MIL 8.0.

제목
SIFT를 기반으로 하는 PCB 영상의 정렬 알고리즘 개발
저자
HAKIL KIM
학회명
대한전자공학회 하계학술대회
개최지
횡성
학회 개최일
2009-07-08 ~ 2009-07-09