이온빔보조증착 SiOxFy 박막의 불균일 굴절률 측정

Inhomogeneous refractive index of SiOxFy thin films prepared by ion-beam assisted deposition
  • CHANG KWON HWANGBO

초록

SiOxFy 박막을 이옹빔 보조 증착법으로 제작하고 굴절률의 불균일도를 포락선 방법으로 측정하였다.

제목
이온빔보조증착 SiOxFy 박막의 불균일 굴절률 측정
제목 (타언어)
Inhomogeneous refractive index of SiOxFy thin films prepared by ion-beam assisted deposition
저자
CHANG KWON HWANGBO
학회명
제15회 광학및 양자전자 학술발표회