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광선 추적법에 의한 45°경사면을 이용한 광결합에서의 정렬오차 분석
(Investigation of Alignment Tolerance in Optical Interconnection Using 45°Tilted Surface with Ray Tracing Method)
LEE EL HANG
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HARVARD
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제목
광선 추적법에 의한 45°경사면을 이용한 광결합에서의 정렬오차 분석
제목 (타언어)
(Investigation of Alignment Tolerance in Optical Interconnection Using 45°Tilted Surface with Ray Tracing Method)
저자
LEE EL HANG
학회명
PHOTONICS CONFERENCE 2006
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