전자부품에서의 고출력 전자기파 영향 분석

Effect analysis in electronic component by High electromagnetic pulse
  • HUH CHANG SU

초록

?고출력 전자기 펄스(HEMP: High Electromagnetic Pulse)는 미국과 소련을 통해 밝혀진 이후 여러 국가에서 연구가 진행 중에 있다. ?1980년대 이후로부터 인위적인 전자파 간섭(IEMI: Intentional Electromagnetic Interference)의 메커니즘이 규명되며, 이에 대한 연구가 활발히 이뤄지고 있는데 그 이유는 핵을 이용하지 않고 고출력 전자기파를 발생 시킬 수 있기 때문이다. ?인위적으로 발생시킨 전자기파는 전자 시스템에 치명적인 손상을 일으키기 때문에 이에 대한 대책이 요구된다. ?여러 연구 기관에서는 PC, 통신 네트워크와 같은 시스템 레벨에서 고출력 전자기파의 영향을 평가하는 연구가 이뤄지고 있다. ?본 연구에서는 소자 레벨에서의 고출력 전자기파 영향을 평가하였다.

제목
전자부품에서의 고출력 전자기파 영향 분석
제목 (타언어)
Effect analysis in electronic component by High electromagnetic pulse
저자
HUH CHANG SU
학회명
2016년도 한국전기전자재료학회 하계학술대회
학회 개최일
2016-06-16 ~ 2016-06-18