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인위적으로 발생시킨 과도 전자파에 노출된 CMOS와 TTL IC의 오동작 및 파괴 특성

Breakdown and Destruction Characteristics of the CMOS and TTL ICs by the Artificail Electromagnetic Waves
  • HUH CHANG SU
제목
인위적으로 발생시킨 과도 전자파에 노출된 CMOS와 TTL IC의 오동작 및 파괴 특성
제목 (타언어)
Breakdown and Destruction Characteristics of the CMOS and TTL ICs by the Artificail Electromagnetic Waves
저자
HUH CHANG SU
학회명
2007년도 대한전기학회 하계학술대회

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