통계적 실험계획법을 이용한 액정표시기용 다결정 실리콘 박막트랜지스터의 최적화설계

Robustic design of Poly-Si TFT for LCD using Statistical Design of Experiments
  • PARK SEGEUN

초록

Performance of AMLCD pixels depends on the electrical characteristics of TFT swithes. The high quality of LCD can be obtained by minimizing the process and device variations of poly-Si TFT

제목
통계적 실험계획법을 이용한 액정표시기용 다결정 실리콘 박막트랜지스터의 최적화설계
제목 (타언어)
Robustic design of Poly-Si TFT for LCD using Statistical Design of Experiments
저자
PARK SEGEUN
학회명
대한전자공학회 하계학술대회 논문집