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TripletMatch:Wafer Map Defect Detection Using Semi-Supervised Learning and Triplet Loss with Mixup
- 제목
- TripletMatch:Wafer Map Defect Detection Using Semi-Supervised Learning and Triplet Loss with Mixup
- 저자
- Youngbum Hur
- 학회명
- 2024년 대한산업공학회 추계학술대회
- 개최지
- 과학기술컨벤션센터
- 학회 개최일
- 2024-10-24 ~ 2024-10-25