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초록
전자회로는 적분회로의 진전에 의해서 손상을 받기 쉽게 되어진다. 컴퓨터나 정보 상호교환 장치는 뇌에 의해서 매우 민감하고 그들은 잘 작동되어지지 않거나 손상을 입을 수 있다. 과도전압에 의해서 발생하는 손상과 고장에 대한 최근의 관심사는 서지 보호에 집중되어 왔다. 서지 보호에 있어서 가장 중요한 파라미터는 과도접지임피던스이다. 본 논문에서는 봉상전극의 과도접지임피던스는 임펄스 전류파형 아래서 측정되어져 왔다. 접지리이드선의 길이를 고려한 접지전극의 Z-t, Z-i 그리고 V-i 특성이 얻어졌고 분석되어졌다.
- 제목
- 봉상접지극의 임펄스전류에 대한 과도임피던스 특성
- 제목 (타언어)
- Characteristics of Transient Grounding Impedances of Rod Electrodes
- 저자
- BOK HEE LEE
- 학회명
- 대한전기학회 하계학술대회 논문집