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광선 추적법에 의한 45°경사면을 이용한 광결합에서의 정렬오차 분석

Investigation of Alignment Tolerance in Optical Interconnection Using 45°Tilted Surface with Ray Tracing Method
  • PARK SEGEUN
제목
광선 추적법에 의한 45°경사면을 이용한 광결합에서의 정렬오차 분석
제목 (타언어)
Investigation of Alignment Tolerance in Optical Interconnection Using 45°Tilted Surface with Ray Tracing Method
저자
PARK SEGEUN
학회명
Photonics Conference2006

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