ScholarWorks@인하대학교
조직
연구자
연구성과
저널
English
상세 보기
광선 추적법에 의한 45도 경사면을 이용한 광결합에서의 정렬오차 분석
Investigation of Alignment Tolerance in Optical Interconnection Using 45°Tilted Surface with Ray Tracing Method
KIM KYONG HON
Citation
APA
CHICAGO
MLA
VANCOUVER
IEEE
HARVARD
Export
XML (DC)
EXCEL
제목
광선 추적법에 의한 45도 경사면을 이용한 광결합에서의 정렬오차 분석
제목 (타언어)
Investigation of Alignment Tolerance in Optical Interconnection Using 45°Tilted Surface with Ray Tracing Method
저자
KIM KYONG HON
학회명
Photonics Conference 2006
더보기