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근접장 주사광학현미경을 이용한 곡선형 광 도파로 도파 특성 측정

The Measurement of waveguide characterization of curved waveguide using Near-field Scanning Optical Microscopy
  • LEE EL HANG
제목
근접장 주사광학현미경을 이용한 곡선형 광 도파로 도파 특성 측정
제목 (타언어)
The Measurement of waveguide characterization of curved waveguide using Near-field Scanning Optical Microscopy
저자
LEE EL HANG
학회명
Photonic Conference 2003

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