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고출력 전자기파에 의한 IC소자의 민감성 분석

The susceptibility of IC devices to HPEM

HUHUKYOUL

초록

본 논문은 고출력 전자기파에 의한 반도체 소자의 피해효과를 알아본 논문이다.

제목: 고출력 전자기파에 의한 IC소자의 민감성 분석

제목 (타언어): The susceptibility of IC devices to HPEM

저자: HUHUKYOUL

학회명: 제 1 회 신특수 에너지 무기 학술대회

개최지: 대전 국방과학연구소

학회 개최일: 2009-09-24 ~ 2009-09-24