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고출력 과도 전자파에 의한 CMOS IC의 손상 특성

Damage Characteristics of CMOS IC by High Power Microwave
  • HUH CHANG SU
제목
고출력 과도 전자파에 의한 CMOS IC의 손상 특성
제목 (타언어)
Damage Characteristics of CMOS IC by High Power Microwave
저자
HUH CHANG SU
학회명
2007년도 한국군사과학기술학회 종합학술대회

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