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Cl2 가스 기반의 실리콘 식각에서 Ar 가스 첨가에 따른 특성
Characteristics of chlorine based plasma etch for Si
O BEOM HOAN
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HARVARD
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제목
Cl2 가스 기반의 실리콘 식각에서 Ar 가스 첨가에 따른 특성
제목 (타언어)
Characteristics of chlorine based plasma etch for Si
저자
O BEOM HOAN
학회명
Photonics Conference 2007
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