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의도 고출력 전자파에 의해 오동작 되는 CMOS소자의 전류특성과 회복시간

Current Characteristics and Recovery Time of CMOS Device Broken by Intentional High Power Microwave
  • HUH CHANG SU
제목
의도 고출력 전자파에 의해 오동작 되는 CMOS소자의 전류특성과 회복시간
제목 (타언어)
Current Characteristics and Recovery Time of CMOS Device Broken by Intentional High Power Microwave
저자
HUH CHANG SU
학회명
2007년도 한국군사과학기술학회 종합학술대회

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