전기적 저압 임팩터와 투과전자현미경을 이용한 대기중 단일 나노입자의 물리화학적 특성 분석

초록

대기중 나노입자의 입경별 물리화학적 특성을 파악하기 위해서는 주사형 이동도 분석장치(Scanning Mobility Particle Sampler; SMPS)와 캐스케임팩터를 사용한 필터 포집을 동시에 해야하는 단점이 있다. 하지만, 전기적 저압 임팩터 (Electrical low pressure impactor; ELPI+, Deakti)는 나노 입자의 입경 분포를 실시간으로 측정 할 수 있는 장치로, 기존 필터를 사용한 캐스케이드 임팩터법의 단점을 극복한 대표적 방법이며, 기존 캐스케이드 임팩터와 같이 필터홀더를 사용할 수 있어 입경별 물리화학적 조성을 파악할 수 있는 측정 장치이다. 본 연구에서는 전기적 저압 임팩터를 이용하여 대기 중 나노입자의 입경 분포를 실시간으로 측정하였으며, 입경별 각 단의 필터홀더에 투과전자현미경(Transmission Electron Microscopy; TEM)용 그리드를 설치하여 포집한 단일 나노입자의 크기와 형상, 화학 조성 등을 투과전자현미경을 이용하여 분석하였다.