상세 보기
초록
본 논문은 협대역 HPEM이 TTL로직회로에 미치는 영향을 분석하고 이에 대한 대책을 논의한 논문이다.
- 제목
- Susceptibility of TTL logic devices to narrow band high power electromagnetic threat
- 저자
- HUHUKYOUL
- 학회명
- PIERS 2009
- 개최지
- Moscow, Russia
- 학회 개최일
- 2009-08-18 ~ 2009-08-21
본 논문은 협대역 HPEM이 TTL로직회로에 미치는 영향을 분석하고 이에 대한 대책을 논의한 논문이다.