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테스트 커버리지 향상을 위한 양자 게이트 기반 테스트 패턴 생성기의 FPGA 설계

제목
테스트 커버리지 향상을 위한 양자 게이트 기반 테스트 패턴 생성기의 FPGA 설계
저자
Young-woo Lee
학회명
제 26회 한국 테스트 학술대회

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