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CDR 성능 평가를 위한 온 칩 지터 허용치 측정 기술
JINKU KANG
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CHICAGO
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VANCOUVER
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HARVARD
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제목
CDR 성능 평가를 위한 온 칩 지터 허용치 측정 기술
저자
JINKU KANG
학회명
2014년 SoC 학술대회
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